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发布: 6:23pm 11/12/2023

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发现高通晶片存在安全漏洞 新科大博士获8万奖金

(已签发)全国:发现高通晶片存在安全漏洞 新科大博士获8万奖金
出现安全漏洞的晶片由高通公司(Qualcomm)制造,常用于苹果、三星和谷歌等热门手机品牌。根据发现,有多达24个品牌的714款智能手机型号受影响。(早报网示意图)

(新加坡11日讯)学生发现,美国公司(Qualcomm)的5G出现3个安全漏洞,可能造成全球约六成手机的5G网络服务瘫痪。

《联合早报》报道,新科大今日发文告说,这些安全漏洞是由加尔贝利尼(Matheus E. Garbelini)博士所发现。他当时还是新科大博士研究生,如今是新科大研究员。

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出现安全漏洞的晶片由高通公司制造,常用于苹果、三星和谷歌等热门手机品牌。根据发现,有多达24个品牌的714款智能手机型号受影响。

文告指出,加尔贝利尼与另外4名研究人员,是通过“无线模糊测试”(Wireless Fuzzing)技术测出问题。

其他参与人员是:新科大研究小组成员查托帕迪亚雅助理教授(Sudipta Chattopadhyay)、新科大博士生尚泽文,以及来自新加坡科技研究局旗下资讯通信研究院(Institute for Infocomm Research)的代理执行总监孙素梅博士和库尼亚万(Ernest Kurniawan)博士。

所谓“模糊测试”,指的是将随机数据输入程序中,并监视程序异常,以发现潜在问题。

研究人员发现,不良分子若从5G基站(gNodeB)发动恶意攻击,可能触发“阻断服务”(Denial of Service,简称DoS)攻击,从而导致5G网络服务中断。即使攻击停止,服务仍无法恢复正常,唯有重启手机,或将SIM卡取出并重新插入,才能连接上网络。

高通对新科大团队在公司生产的晶片中,发现3个“严重漏洞”表示赞赏,决定颁发1万7000美元(约8万令吉)奖金,给加尔贝利尼和团队。

高通发言人在文告中说,公司已与新科大团队合作解决相关问题,并在今年8月发出修补程序给代工厂制造商,呼吁终端用户进行相关安全更新。

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